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产品简介
参考报价:
面议 | 型号: | AFM5100N | |
品牌: | 日立 | 产地: | 日本 |
样本: | 【暂无】 | 信息完整度: | |
典型用户: | 0 |
仪器种类: | 原子力显微镜 | 样品台移动范围: | 150mm*150mm |
样品尺寸: | 直径≤35mm,厚度≤10mm | 定位检测噪声: | |
价格区间: | 产地类别: | 进口仪器 |
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
· 特点
1. 简便的悬臂安装
通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。
2. 不用调整激光光斑的自检测方式
激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。
3. 精确的悬臂定位
悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。
4. 方便的操作导航系统
通过流程图形式的导航系统,任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外,通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数,能够简单确定测量条件。
5. 紧凑的主机
主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件,安装紧凑,体积小巧。
6. 优越的扩展功能
通过激光检测方式,能够扩展各种各样的选配功能。另外,只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。
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